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流体控温装置芯片测试电路设计

 更新时间:2019-02-19 点击量:1559

  随着国内芯片行业的不断发展,无锡冠亚流体控温装置不断得到应用,为此,针对流体控温装置芯片测试的电路设计,流体控温装置厂家需要了解清楚,才能更好的生产销售流体控温装置。

  AM-OLED显示驱动芯片是AM-OLED平板显示屏的关重件,具有重要经济价值,显示驱动芯片内部集成了行列驱动电路、图像SRAM、电荷泵、LDO、伽马校正和多种输入输出接口。内置图像SRAM可支持到WVGA分辨率,可显示16.77兆色的显示屏;片内的低功耗电源管理技术增强了手持设备的电池续航能力。该芯片具有高集成度、低成本、低功耗的特点,可运用于中小尺寸AM-OLED显示屏???,包括智能手机、数码相机等电子产品。 因此,流体控温装置针对AM-OLED驱动控制芯片的测试需求,并结合该芯片的多功能??榻峁固氐悖岢隽艘恢?/span>AM-OLED驱动芯片的测试电路设计方案。

  AM-OLED驱动控制芯片电源??橛扇龅绾杀谩⒘礁?/span>LDO以及一个上电检测电源组成,用来向伽马校正、行驱动、列驱动以及SRAM模块提供所需要的驱动电压。内置SRAM用来存储需要显示的图像数据。OSC振荡器主要是作为片内时钟源,可以通过倍频、分频、调整占空比等方式,结合各需求??榈木咛逍枨?,产生高精度的时钟频率。数字控制??橛?/span>Command decoderTCON??樽槌桑饕迪植煌直媛氏允?,不同显示模式显示,低功耗模式控制,不同控制和数据接口兼容,行列驱动电路控制以及伽马校正,接口译码功能。使各??槟苄靼葱蚬ぷ鳌?/span>

  针对以上驱动芯片,需要对他的各项功能??楹驼逍阅芙杏兄副甑牟馐裕S貌馐韵钅坑械缭茨?椴馐?,测定芯片内基准、电荷泵、LDO等电源的电压、电流指标要求。联动测试,包括上电,启动复位、省电、睡眠等各模式之间的切换。动态电流和平均电流测试,用于统计芯片的平均功耗和瞬时功耗。列驱动Source Driver输出固定电平测试、建立时间、DNL、INLDVO测试。通过SPI口对集成在芯片内的SRAM进行测试,测试基本的存储功能是否正确。伽马电路测试,需要分步进行,先对其内部各个模拟电路进行测试,确定参考电压产生是否正确,然后再和列驱动连接进行联合测试。比对显示效果,可调整电压误差范围。 数字控制??榈牟馐裕饕诮涌谥涞募嫒?,可在线调试,寄存器可配等特点来提高芯片的可测试性。

流体控温装置的芯片电路设计不同厂家有着不同的特点,流体控温装置专业厂家应对此能够集中分析测试,更好的进行芯片测试。

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