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    首页 > 产品中心 > > 元器件高低温测试机 > 半导体温度测试系统Chiller,测试

    半导体温度测试系统Chiller,测试

    简要描述:半导体温度测试系统Chiller,测试的典型应用:
    适合元器件测试用设备,在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

    • 产品型号:TES-4555
    • 厂商性质:生产厂家
    • 更新时间:2025-01-07
    • 访  问  量:1585
    详情介绍
    品牌LNEYA/无锡冠亚产地类别国产
    应用领域石油,能源,电子/电池,汽车及零部件,电气

     

    元器件测试用设备

     

    适合元器件测试用设备

    在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

     

     

    型号KRY-455
    KRY-455W
    KRY-475
    KRY-475W
    KRY-4A10
    KRY-4A10W
    KRY-4A15
    KRY-4A15W
    KRY-4A25
    KRY-4A25W
    KRY-4A38WKRY-4A60W
    温度范围-40℃~+100℃
    控温精度±0.5℃
    温度反馈Pt100
    温度显示0.01k
    流量输出1~10L/min1~25L/min1~25L/min1~40L/min1~40L/min5~50L/min5~50L/min
    关于流量说明/当温度低于-30度时,大流量为25L/min当温度低于-30度时,大流量为30L/min
    流量控制精度±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min
    压力显示采用江森自控压力传感器,触摸屏上显示压力,可进行压力控制调节 
    加热功率5.5kW7.5kW10kW10kW
    选配15kW
    15kW
    选配25kW
    25kW
    选配38kW
    38kW
    选配60kW
    制冷量100℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    20℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    0℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    -20℃2.8kW4.5kW6kW10kW16kW25kW35kW
    -35℃1.2kW1.8kW2.5kW4kW6.5kW10kW15kW
    压缩机艾默生谷轮涡旋柔性压缩机
    膨胀阀艾默生/丹佛斯热力膨胀阀
    油分离器艾默生
    干燥过滤器艾默生/丹佛斯
    蒸发器丹佛斯/高力板式换热器
    输入、显示7寸彩色触摸屏西门子S7-1200 PLC控制器
    程序编辑可编制10条程序,每条程序可编制40段步骤
    通信CAN通信总线
    安全?;?/td>具有自我诊断功能;冷冻机过载?;ぃ桓哐寡沽?,过载继电器、热?;ぷ爸谩⒌鸵何槐;ぁ⒏呶卤;?、传感器故障保护等多种安全保障功能
    是否为全密闭系统整个系统为全密闭系统,高温时不会有油雾、低温不吸收空气中水份,系统在运行中不会因为高温使压力上升,低温自动补充导热介质。
    制冷剂R404A/R507C
    接口尺寸G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4
    水冷型at25度1100L/H1500L/H2000L/H2800L/H4500L/H7000L/H12000L/H
    水冷冷凝器帕丽斯/沈氏套管式换热器
    风冷型冷凝器铜管铝翅片换热器(上出风形式)
    电源 380V50HZ12kW max15kW max20kW max29kW max42kW max58kW max84kW max
    水冷尺寸cm55*95*17555*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185145*205*205
    风冷尺寸cm55*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185  
    重量250kg280kg320kg360kg620kg890kg1300kg
    选配220V 60HZ三相  400V 50HZ三相  440V 60HZ三相
    选配温度扩展到-40℃~+135℃
    选配更高精度控制温度、流量、压力
    选配自动加注防冻液系统
    选配自动液体回收系统

     

    半导体温度测试系统Chiller,测试

    半导体温度测试系统Chiller,测试

      IC测试贯穿芯片制造的全流程,对保证芯片的性能和稳定性意义重大,测试独立化不仅有助于其专业性的提升,更可将芯片设计、制造中的存在问题及时分析反馈,减少产能浪费,有效降低生产成本并提升效率。

    IC测试程序繁琐,要求很高。晶圆测试和成品测试本质上都是集成电路的电学性能测试,包括芯片的电特性、电学参数和电路功能,其中功能是器件的行为(能力),特性是器件行为的表现,而特性参数是器件的主要特征。因此,电性能测试就是对集成电路的电特性、电参数和功能在不同条件下进行的检验。此外,在IC测试的过程中还会相应地采取一系列测试规范以提高集成电路设计、工艺控制和使用水平,具体包括特性规范、生产规范、用户规范和寿命终结规范,分别对应芯片工作条件的容许限度和电路性能达标的评价、生产过程中的在线测试、用户验收测试、可靠性评估。

    元器件测试用设备

     

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